NHẬN DẠNG LỖI VẢI DỆT DÙNG ICA T

NHẬN DẠNG LỖI VẢI DỆT DÙNG ICA
Trần Thanh Tịnh1, Trần Thị Huỳnh Vân2, Nguyễn Hữu Phương2
1Trường Đại học Công nghiệp Tp. HCM
2Khoa Điện tử-Viễn thông, Đại học Khoa học Tự nhiên-ĐHQG Tp. HCM

 


Tóm tắt
    Việt nam hiện đứng hàng thứ hai (sau Trung Quốc) trên thế giới về xuất khẩu hàng may mặc và đang phát triển nhanh ngành thời trang. Cả hai hoạt động này cần các loại vải. Việc sản xuất vải phải đạt sản lượng lớn và chất lượng cao. Điều này đòi hỏi hệ thống rất phức tạp để kiểm tra, nhất là khi vải đang chạy trên băng chuyền. Đề tài không nhằm thực hiện một hệ thống xử lý thời gian thực mà chỉ tập trung về thuật toán nhận dạng lỗi vải dệt. Kỹ thuật phân tích thành phần độc lập (ICA) kết hợp với biến đổi wavelet được dùng. Phương pháp tỏ ra rất hiệu qủa đối với các ảnh chụp mẫu vải của các cơ sở dữ liệu trên mạng. Phương pháp cũng có thể áp dụng cho một số bề mặt khác.

 


    Từ khóa: Hàng may mặc, nhận dạng lỗi, thành phần độc lập, biến đổi wavelet

 


FAULT RECOGNITION OF TEXTITLE FABRICS USING ICA
Tran Thanh Tinh1, Tran Thi Huynh Van2, Nguyen Huu Phuong2
1University of Industry, HCMC
2Faculty of Electronics and Telecommunications, University of Science-VNU HCMC

 


Abstract
    At present, VietNam is the number two (behind China) in exporting of garments in the world, and the fashion industry is being developed at fast pace. Both operations require various types of fabric, of which the production must have high yield and good quality. Thus complex systems are needed to inspect the textile, especially when it is running on the production line. This project is not aimed at designing such a system working in real time, but just concentrates on the fault recognition algorithm. We use the independent component analysis associated with the wavelet transform for this pupose. The method seems quite effective with respect to frabric image samples of databases available on the Internet. The method can also be applied to other surfaces.

 


    Key words: Textile fabrics, fault recognition, independent component analysis, wavelet transform.